金属镀层测厚仪CHY-CM依据欧姆定律测试各种金属镀层的厚度值,适用于各种镀铝薄膜、镀铝纸、带有金属镀层的薄膜材料等镀层厚度的测定。通过对镀层厚度的测定,达到控制与调节材料表面金属镀层厚度的技术指标。
金属镀层测厚仪CHY-CM依据欧姆定律测试各种金属镀层的厚度值,适用于各种镀铝薄膜、镀铝纸、带有金属镀层的薄膜材料等镀层厚度的测定。通过对镀层厚度的测定,达到控制与调节材料表面金属镀层厚度的技术指标。
测试原理
材料金属镀层为一段金属导体,依据欧姆定律测量单位面积上金属镀层的电阻值,根据测出的电阻值得出金属镀层的厚度。
技术特点
高精度接触式测试,测试结果准确
测试过程一键式操作,自动化程度高
7寸大液晶屏显示,方便参数设置及数据查看
大液晶触屏操作系统,实时显示测试电阻值和镀层厚度值
测试数据存储功能,方便存储及查询测试报告
配备微型打印机,快速打印试验结果
参照标准
GB/T15717标准
测试应用
应用 | 薄膜金属镀层 | 各种塑料薄膜、塑料复合薄膜等材料表面的金属镀铝层材料的厚度测试 |
片材 | PP片金属镀层、PVC片金属镀层、PET片金属镀层等片状材料的镀层厚度 | |
纸张 | 烟包镀铝纸、锡纸、纸张金属镀层等材料的镀层厚度 |
技术参数
测试范围:50-750A
电阻测量范围:0.5Ω-5Ω
测试精度:±1%
样品尺寸:100mm×100mm
夹样精度:±0.1mm
测温范围:0℃-50℃
温度精度:±1℃
外形尺寸:380mm×300mm×410mm
重量:20kg
标准配置
设备主机、微型打印机